La continua riduzione delle deviazioni sistematiche nei tomografia computerizzata (CT) – cosiddetti artefatti – è una delle priorità di sviluppo di software di misurazione WinWerth® . Già nel 2005, i metodi di correzione sono stati integrati nella ricostruzione del volume digitale del pezzo nel primo dispositivo con TC a raggi X al mondo sviluppato appositamente per tecnologia di misurazione a coordinate il TomoScope® 200.
Per ampliare la gamma di applicazioni dei dispositivi, non è sufficiente misurare pezzi in plastica in modo rapido e preciso. Anche gli assemblaggi complessi con materiali altamente assorbenti come metalli o ceramiche e, ad esempio, combinazioni di plastica e rame devono essere altamente accurato analizzati e misurati. Tuttavia, tomografia tali multimateriale pezzi producono artefatti significativamente più forti, ad esempio a causa di tempra del fascio, che compromettono notevolmente l'accuratezza della misura e in alcuni casi rendono impossibile l'ispezione.
Precisione ed efficienza vanno di pari passo
Per affrontare queste sfide, diversi procedura di correzione sono stati integrati in WinWerth®. Collaudato da decenni, correzione empirica degli artefatti (EAK) consente di correggere gli artefatti sconosciuti sulla base di un singolo tomografia, ma finora è stato limitato all'uso per pezzi monomateriale. In alternativa, la TC multispettrale (MSP-CT) fornisce ottimi risultati con due misurazioni con spettri di raggi X diversi, anche per i pezzi multimateriale, ma a scapito del tempo di misura. Con il nuovo MEAK (multi-material EAK), le aree che generano artefatti (ad esempio i contatti metallici nei connettori) vengono rilevate automaticamente dopo un misurazione, gli artefatti generati vengono determinati e rimossi. Il risultato è un volume corretto con artefatti significativamente ridotti, che di solito consente un'analisi affidabile su fiere.
